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台积电更新 SoIC 3D 芯片封装堆叠技术路线图:2029 年互连间距缩至 4.5μm

  发布于2026-04-30 阅读(0)

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台积电更新SoIC 3D芯片封装堆叠技术路线图:2029年互连间距缩至4.5μm

近期,在北美的一场技术研讨会上,台积电更新了其SoIC 3D堆叠技术的路线图,为未来几年的技术演进指明了方向。其中一项核心目标,是计划将现有的6μm互连间距进一步微缩,预计到2029年将缩小至4.5μm。

这里需要先明确一下,SoIC全称为System on Integrated Chips,是台积电自主研发的一项3D IC封装技术。它的核心在于,能够将多个芯片进行垂直堆叠,从而实现更高性能与更高密度的集成。

那么,它与传统封装技术有何不同?关键在于“直接互连”。SoIC利用先进的混合键合技术,让芯片与芯片之间的金属层直接“对话”,这大幅缩短了信号传输的路径。带来的好处显而易见:功耗更低,延迟更小。正因如此,这项技术尤其受到高性能计算和AI芯片领域的青睐。

台积电更新 SoIC 3D 芯片封装堆叠技术路线图:2029 年互连间距缩至 4.5μm

技术路径:面对面与背对背的差异

深入技术细节,SoIC主要分为两种堆叠方式:Face-to-Back(F2B,背对背)和 Face-to-Face(F2F,面对面)。这两种方式的性能表现,可谓天差地别。

先看F2B方式。由于其物理结构的限制,信号必须穿过底部芯片的硅通孔(TSV)以及多层金属布线才能到达上层芯片。这个过程不仅增加了额外的延迟和功耗,更关键的是,它从根本上限制了互连的密度。数据显示,采用F2B设计的信号密度大约在1500个/mm²。

相比之下,F2F方式则采用了更为直接的思路。它通过混合铜键合技术,将两块芯片的金属层面对面地连接起来,完全绕开了TSV。这种“直连”模式带来了质的飞跃——信号密度飙升至约14000个/mm²。这意味着芯片间的通信效率极高,几乎接近了单颗芯片内部互连的水平。

路线图演进:从9μm走向4.5μm

互连间距的微缩,是衡量这项技术精密度与先进性的关键标尺。回顾一下进程:台积电在2023年已经实现了9µm的互连间距,这个精度已经相当惊人,足以支撑像AMD Instinct MI300系列这样的高端产品。不过,当时的第一代SoIC技术仅支持F2B设计。

而根据最新的路线图,台积电计划在2025年将互连间距缩短到6μm。这还不是终点,他们的目光放得更远,预估到2029年,这一间距将进一步微缩至4.5µm。每一次微缩,都意味着集成密度和性能的又一次提升。

台积电更新 SoIC 3D 芯片封装堆叠技术路线图:2029 年互连间距缩至 4.5μm

以上图源:台积电

落地应用:富士通Monaka处理器的实践

技术路线再宏伟,也需要实际产品的验证。目前,富士通的Monaka处理器成为了SoIC技术首个重量级的应用案例。这款面向数据中心的CPU拥有144个Armv9核心,其设计颇具巧思:计算模块采用台积电最先进的N2工艺制造,然后通过前述的F2F方式,堆叠在由N5工艺制造的SRAM芯片之上。这种异构集成与3D堆叠的结合,正是未来高性能芯片设计的一个重要方向。

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